

Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras
Mokomoji knyga
Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.
Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.
Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.
Leidinio elektroninis variantas:
Charakteristikos
Kodas: 915808
Algirdas Mykolas Montvilas Mokomoji knyga
Kodas: 915739
Rimantas Pupeikis Laboratorinių darbų metodikos nurodymai
Kodas: 32082
Romanas Martavičius, Darius Plonis Vadovėlis
Kodas: 915936
Edvardas Matkevičius, Lionginas Radzevičius Laboratorinių darbų metodikos nurodymai
Kodas: 918105
Laimis Laurinavičius Laboratorinių darbų metodikos nurodymai
Kodas: 915698
Stanislovas Štaras Mokomoji knyga
Kodas: 919013
Raimundas Kirvaitis, Andrius Katkevičius Mokomoji knyga
Kodas: 31435
Kęstutis Bartnykas Vadovėlis Įsigykite aktualią redakciją (Kompiuterių sandara, 2-oji pataisyta ir papildyta laida)
Kodas: 918322
Dalius Navakauskas, Artūras Serackis Vadovėlis
Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras
Mokomoji knyga