Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras
Mokomoji knyga
Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.
Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.
Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.
Leidinio elektroninis variantas:
Charakteristikos
Kodas: 32082
Romanas Martavičius, Darius Plonis Vadovėlis
Kodas: 32342
Romanas Martavičius, Andrius Katkevičius, Darius Plonis Vadovėlis
Kodas: 918105
Laimis Laurinavičius Laboratorinių darbų metodikos nurodymai
Kodas: 917179
Valdas Daškevičius, Kazimieras Maceika Laboratorinių darbų užduotys ir metodikos nurodymai
Kodas: 901119
Darius Poviliauskas Laboratorinių darbų užduotys ir metodikos nurodymai
Kodas: 915875
Algirdas Seilius Mokomoji knyga
Kodas: 31408
Richard C. Jaeger, Travis N. Blalock Vertė doc. dr. Darius Miniotas Vadovėlis
Kodas: 917058
Prekės ženklas: VILNIUS TECH leidykla "Technika"
Antanas Gurskas Vadovėlis
Kodas: 915936
Edvardas Matkevičius, Lionginas Radzevičius Laboratorinių darbų metodikos nurodymai
Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras
Mokomoji knyga
