Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas

Rokas Kvedaras, Vygaudas Kvedaras

Mokomoji knyga

4,49 €
Su mokesčiais
Kiekis

Aprašymas

Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.

Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.

Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.

Leidinio elektroninis variantas:

DOI: https://doi.org/10.3846/1218-S

Prekė detaliau

Charakteristikos

Metai:
2011
ISBN:
978-9955-28-921-0
eISBN:
978-9955-28-919-7
Leidyklos nr.:
1218-S
Matmenys:
145×205 mm
Puslapių skaičius:
116 p.
Viršelis:
minkštas
Kalba:
lietuvių
16 kitos prekės toje pačioje kategorijoje:
Elektroniniai matavimai

Kodas: 915591

Elektroniniai matavimai

Algirdas Seilius, Andrejus Geižutis Praktinių darbų užduotys ir metodiniai nurodymai

Kaina 3,78 €
Daugiau
Yra sandėlyje
Mikrobangų technika

Kodas: 917179

Mikrobangų technika

Valdas Daškevičius, Kazimieras Maceika Laboratorinių darbų užduotys ir metodikos nurodymai

Kaina 4,67 €
Daugiau
Yra sandėlyje